Penentuan Struktur Kristal dan Komposisi Kimia Lapisan Tipis Sn(Se0,5S0,5) HasilPreparasi Teknik Evaporasi untuk Aplikasi Sel Surya. (Determination Crystal Structure and Chemical Composition of Sn(Se0,5S0,5) Thin Film from Preparation’s Result of Evaporation Method for Solar Cell Application)

Penentuan Struktur Kristal dan Komposisi Kimia Lapisan Tipis Sn(Se0,5S0,5) Hasil Preparasi
Teknik Evaporasi untuk Aplikasi Sel Surya. Penelitian ini bertujuan menumbuhkan lapisan tipis
Sn(Se0,5S0,5) dengan teknik vakum evaporasi untuk mempelajari karakter lapisan tipis Sn(Se0,5S0,5)
dengan karakterisasi struktur kristal, morfologi permukaan, dan komposisi kimia. Preparasi dilakukan
pada tekanan ~10-5 mbar dan memvariasi jarak sumber dengan substrat menggunakan spacer. Spacer
divariasi sebanyak 3 kali, yaitu 10 cm, 15 cm, dan 25 cm. Sampel dikarakterisasi menggunakan XRD
(X-Ray Diffraction) untuk mengetahui struktur kristal, SEM (Scanning Electron Microscopy) untuk
mengetahui morfologi permukaan, dan EDAX (Energy Dispersive Analysis X-Ray) untuk mengetahui
komposisi kimia. Hasil menunjukkan ketiga sampel memiliki struktur kristal orthorhombik dengan
parameter kisi sampel 1: a=11,347 Å; b=4,074 Å; c=4,371 Å, sampel 2: a=11,431 Å; b=4,088 Å;
c=4,355 Å, sampel 3: a=11,301 Å; b=4,067 Å; c=4,293 Å. Permukaan lapisan tipis homogen terdiri
atas butiran berukuran ~0,5 μm. Lapisan tipis mengandung unsur Sn, Se, dan S dengan persentase
komposisi kimia Sn=51,75 %, Se=23,84 %, S=24,42 % dan perbandingan molaritas Sn:Se:S adalah
1:0,46:0,47.
(Determination Crystal Structure and Chemical Composition of Sn(Se0,5S0,5) Thin Film from Preparation’s
Result of Evaporation Method for Solar Cell Application. This research aims to grow a thin
film Sn(Se0,5S0,5) by vacuum evaporation technic to study character of thin film Sn(Se0,5S0,5) by the
chracterization of crystal structure, surface morphology, and chemical composition. Preparation process
is performed on pressure ~10-5 mbar and vary the distance between the source and the substrate
by spacer. Spacer is varied for 3 times, i.e 10 cm, 15 cm, and 25 cm. Samples is characterized by XRD
(X-Ray Diffraction) to determine crystal structure, SEM (Scanning Electron Microscopy) to determine
surface morphology, and EDAX (Energy Dispersive Analysis X-Ray) to determine chemical composition.
The results shows that all samples has orthorhombic crystal structure with the value of lattice
parameter is: sample 1: a=11,347 Å; b=4,074 Å; c=4,371 Å, sample 2: a=11,431 Å; b=4,088 Å;
c=4,355 Å, sample 3: a=11,301 Å; b=4,067 Å; c=4,293 Å. The surface of sample is homogenous and
consists of grains with a size ~0,5 μm. Thin film contain elements of Sn, Se, dan S with the chemical
composition percentage is Sn=51.75%, Se=23.84%, S=24.42% and the molarity comparison of
Sn:Se:S is 1:0,46:0,47.)