PENGUASAAN KARAKTERISASI FABRIKASI PELAPISAN BUFFER KERNEL UO2 (BUFFER LAYER) MENGGUNAKAN MATERIAL SURROGATE KERNEL UO2

Tujuan kegiatan ini untuk mengetahui lapisan buffer yang terdeposisi pada permukaan kernel Ceria-stabilized Zirconia(CSZ). Pengukuran kernel CSZ tersinter dengan mikroskop digital menunjukkan diameter rerata kernel CSZ sebesar 615micron dan sferisitas sebesar 1,103.Proses deposisi lapisan buffer pada kernel CSZ tersinter dilakukan dengan menggunakan peralatan pelapisan buatan sendiri yang berada di Gd.07 PTBBN BATAN Yogyakarta. Pengamatan hasil pelapisan buffer kernel CSZ dengan menggunakan mikroskop digital menunjukkan bahwa lapisan buffer pada permukaan kernel CSZ tidak merata. Pengamatan lapisan bufferdengan menggunakan mikroskop optik menunjukkan ketebalan lapisan buffer rerata sebesar 17,08 micron.