PERHITUNGAN SENSITIVITAS ANALISIS PIXE 150 keV

PERHITUNGAN SENSITIVITAS ANALISIS PIXE 150 keV. Proton Induced X-ray Emission (PIXE)
merupakan teknik analisis unsur yang ampuh yaitu multi unsur, tak merusak, sensitivitas tinggi, dan
cepat. Teknik PIXE yang ada sekarang ini umumnya menggunakan enegi proton tinggi (orde 2-4
MeV). Dengan energi proton tersebut maka teknik PIXE secara ekonomis tidak dapat bersaing
dengan teknik analisis yang semisal keampuhannya. Dari kajian dua literatur menerangkan
bahwwa cacah latar untuk PIXE energi 300 keV dan 500 keV lebih baik namun batas deteksinya
lebih rendah. Dalam rangka mengoptimalkan penggunaan fasilitas akselerator ion 150 kV di P3TM
dan dalam rangka penguasaan teknologi analisis menggunakan akselertator maka perlu dilakukan
litbang teknologi PIXE energi rendah. Pada penelitian ini dilaporkan bahwa telah dilakukan
perhitungan sensitivitas PIXE pada energi proton 150 keV secara simulasi untuk unsur-unsur dari
Z=14 sampai dengan Z=50 yang diidentifikasi menggunakan sinar X garis Kα1. Parameter simulasi
meliputi efisiensi detektor, muatan proton dan berat sampel, Dari hasil perhitungan diperoleh
bahwa sensitivitas PIXE pada energi 150 keV puluhan kali lebih rendah dibandingkan dengan
sensitivitas PIXE pada energi 4 MeV.